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CMY-410落射三目正置金相显微镜 芯片检测显微镜
产品介绍CMY-410正置金相显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。总放大倍数:50X-800X 性能特点:
技术参数
可选购件
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