| 首页 > 计量检测仪器 > 显微熔点仪 > SGW X-4显微熔点仪（数显 |
SGW X-4显微熔点仪（数显
产品介绍测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 技术参数熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
|
 |
|||||||
 |
|
SGW X-4B显微熔点仪 |
|
 |
|
X4|X5|X6系列显微熔点测定仪 |
|
|
|||||||
|
|||||||
 |
|
SGW X-4A显微熔点仪 |
|
 |
|
RDY-1显微熔点仪 |
|
|
|||||||
|
|||||||
 |
|
WRR熔点仪 |
|
 |
|
WRS-1B数字熔点仪 |
|
|
|||||||
|
| 首页 > 计量检测仪器 > 显微熔点仪 > SGW X-4显微熔点仪（数显 |
批量采购
配送方式
技术咨询
联系我们
打印该页
