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SGW X-4B显微熔点仪

SGW X-4B显微熔点仪

SKU: SGWX-4B

产品介绍

测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。 

技术参数

  • 熔点测量范围：室温至320℃
  • 最小读数：0.1℃
  • 测量重复性：±1℃（在<200℃时）         ±2℃（在200～300℃时）
  • 配双目体视显微镜
  • 光学放大倍数：40X-100X连续可调

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